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PD充电头的失效分析方法一

发布时间:2021.08.23 11:57 浏览次数:132
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PD充电头的失效分析方法一
PD充电头是通俗的叫法,又名PD快速充电器、PD电源适配器、TYPE-C充电头、USB-C电源适配器;根据输出功率不同,也分30W PD充电头、45W PD充电头、65W PD电源。
PD充电头的外观检查:
外观检查主要是分析检查PD充电头产品的外观缺陷,外观检查的目的是记录PCB、电子零件和焊点等的物理尺寸、材料、设计、结构和标记,确定外观的破损,检测污染等异常和缺陷,这些问题都是工艺制造或应用中造成的错误、过负载和操作失误的证据,这些信息很可能与失效是相关的。
外观检查通常采用目检,也可以使用1.5~10倍的放大镜或者光学显微镜。外观检查的作用之一是验证工艺失效的PCB、电子零件和焊点与标准和规范的一致性;外观检查的作用之二是寻找可能导致失效的问题点。例如,电源适配器、充电器组装成品后放置一段时间外壳有裂缝,则可能是PC/ABS两种原材料树脂的相容性没处理好,容易开裂,或是工艺方面,产品加工过程中,没有很好消除内应力。外引线之间如果有异物,则异物可能导致引线之间的短路。PCB表面有机械损伤,则可能导致PCB走线断裂引起开路等。
由于PD充电头的失效分析可能要做切片和去封装等破坏性分析工作,外观检查的对象不再存在,因此在进行外观检查时要做详细记录,最好拍些图片。作为初步检查,在检查外观之前,如果对目标随随便便地进行处理就有可能失去宝贵的信息。作为外观检查程序的一部分,首先要将其全部信息标记记录下来,即详细记录PCB厂家和电子零件厂家的名称、型号、规格、批次、生产日期等信息。其次,应特别注意以下几方面内容的检查:
1.机械损伤:来自电子零件的引脚、根部和封装密封缝的开裂、划痕、疵点;焊点和PCB表面的机械损伤痕迹。
2.器件密封缺陷:来自电子元器件的引脚与玻璃、陶瓷和塑胶的结合处,以及根部的黏附部位和密封缝。
3.器件引脚镀层缺陷:来自电子元器件表面的镀层不均匀、气泡、针孔和锈斑。
4.PCB表面的污染或黏附物:主要来自PCB板加工过程中。
5.器件的热损伤或电气损伤情况。
6.PCB的分层和爆裂等。
7.PCB表面处理层的异常。
8.焊点有没有发生重熔和开裂、虚焊等。
在进行PD充电头可靠性设计时,要在工艺文件中对生产、保管、存储和运输等过程提出明确的控制要求,对可疑的部分,必须进一步用能获取信息数据的测量仪器进行检查。全部的重要信息都应用显微镜及录像设备进行摄影记录。

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